Za obiskovalce na Electronici 2024

Rezervirajte svoj čas zdaj!

Potrebno je le nekaj klikov, da si rezervirate svoje mesto in dobite vozovnico

Hall C5 Booth 220

Vnaprejšnja registracija

Za obiskovalce na Electronici 2024
Vsi se prijavite! Hvala, ker ste se dogovorili!
Ko bomo preverili vašo rezervacijo, vam bomo poslali vstopnice po e -pošti.
Domov > Izdelki > Integriranih vezij (IC) > Logic - Posebnost Logic > SN74BCT8373ADWR
RFQs/naročilo (0)
Slovenija
Slovenija
6646755

SN74BCT8373ADWR

Zahtevaj ponudbo

Prosimo, izpolnite vsa potrebna polja s svojimi kontaktnimi podatki. Klik "Pošlji RFQ" Kmalu vas bomo kontaktirali po e -pošti.Ali nam pošljite e -pošto:info@ftcelectronics.com
Povpraševanje na spletu
Specifikacije
  • Številka dela
    SN74BCT8373ADWR
  • Proizvajalec / znamka
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • Količina zalog
    Na zalogi
  • Opis
    IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
  • Status svobodnega statusa / RoHS
    Brez svinca / RoHS
  • Napajalna napetost
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Paket naprave za dobavitelja
    24-SOIC
  • Serija
    74BCT
  • Pakiranje
    Tape & Reel (TR)
  • Paket / primer
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • delovna temperatura
    0°C ~ 70°C
  • Število bitov
    8
  • Tip montaže
    Surface Mount
  • Raven občutljivosti na vlago (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Vrsta logike
    Scan Test Device with D-Type Latches
  • Status svobodnega statusa / RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • natančen opis
    Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
  • Številka osnovnega dela
    74BCT8373

Unleashing High-Performance DSP: A Deep Dive into TI TMS320...

2024/11/15

Texas Instruments: An all-round player from analog to embedded

2024/11/14
Dostava
Plačilo
Sledi izdelki, povezani z "SN74BCT8373ADWR".
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
RFQ
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
RFQ
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
RFQ
SN74BCT8374ANTG4

SN74BCT8374ANTG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
RFQ
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

Opis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
RFQ
SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
RFQ
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
RFQ
SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
RFQ
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
RFQ
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
RFQ
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
RFQ
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
RFQ
SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT

Opis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
RFQ
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

Opis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
RFQ
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

Opis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
RFQ
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
RFQ
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
RFQ
SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
RFQ
SN74CB3Q16210DGGR

SN74CB3Q16210DGGR

Opis: IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-TSSOP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
RFQ
SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
RFQ
Kot edini javni distributer odprtega trga imamo edinstveno kombinacijo globalnega dostopa, strokovnega znanja v proizvodni industriji in dokazane kakovosti.S tem lahko ustvarimo prilagojene rešitve dobavne verige od konca do konca za pridobivanje komponent elektronike in upravljanje zalog.
Sledi nam
Pogoji uporabePolitika kršitveZahtevajte ponudboO nasKontaktiraj nasZemljevid spletnega mesta

Izberi jezik

Kliknite prostor za izhod

Trenutni jezik

Izberite državo ali regijo.