Za obiskovalce na Electronici 2024

Rezervirajte svoj čas zdaj!

Potrebno je le nekaj klikov, da si rezervirate svoje mesto in dobite vozovnico

Hall C5 Booth 220

Vnaprejšnja registracija

Za obiskovalce na Electronici 2024
Vsi se prijavite! Hvala, ker ste se dogovorili!
Ko bomo preverili vašo rezervacijo, vam bomo poslali vstopnice po e -pošti.
Domov > Izdelki > Integriranih vezij (IC) > Logic - Posebnost Logic > SN74BCT8374ANT
RFQs/naročilo (0)
Slovenija
Slovenija
1572237

SN74BCT8374ANT

Zahtevaj ponudbo

Prosimo, izpolnite vsa potrebna polja s svojimi kontaktnimi podatki. Klik "Pošlji RFQ" Kmalu vas bomo kontaktirali po e -pošti.Ali nam pošljite e -pošto:info@ftcelectronics.com
Povpraševanje na spletu
Specifikacije
  • Številka dela
    SN74BCT8374ANT
  • Proizvajalec / znamka
  • Količina zalog
    Na zalogi
  • Opis
    IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
  • Status svobodnega statusa / RoHS
    Brez svinca / RoHS
  • Napajalna napetost
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Paket naprave za dobavitelja
    24-PDIP
  • Serija
    74BCT
  • Pakiranje
    Tube
  • Paket / primer
    24-DIP (0.300", 7.62mm)
  • delovna temperatura
    0°C ~ 70°C
  • Število bitov
    8
  • Tip montaže
    Through Hole
  • Raven občutljivosti na vlago (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Vrsta logike
    Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
  • Status svobodnega statusa / RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • natančen opis
    Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP
  • Številka osnovnega dela
    74BCT8374
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74CB3Q16211DL

SN74CB3Q16211DL

Opis: IC SWITCH BUS FET 24BIT 56-SSOP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74CB3Q16211GQLR

SN74CB3Q16211GQLR

Opis: IC 24BIT FET BUS SW HI-BW 56-BGA

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74CB3Q16210DGVR

SN74CB3Q16210DGVR

Opis: IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-TVSOP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74CB3Q16210DL

SN74CB3Q16210DL

Opis: IC SWITCH BUS FET 20BIT 48-SSOP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74CB3Q16211DGVR

SN74CB3Q16211DGVR

Opis: IC SW BUS 24BIT FET 56-TVSOP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74CB3Q16211DLR

SN74CB3Q16211DLR

Opis: IC SW BUS 24BIT FET 56-SSOP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74CB3Q16211DGGR

SN74CB3Q16211DGGR

Opis: IC SW BUS 24BIT FET 56-TSSOP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74CB3Q16210DLR

SN74CB3Q16210DLR

Opis: IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-SSOP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

Opis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74CB3Q16210DGGR

SN74CB3Q16210DGGR

Opis: IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-TSSOP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

Opis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8374ANTG4

SN74BCT8374ANTG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi

Izberi jezik

Kliknite prostor za izhod