Za obiskovalce na Electronici 2024

Rezervirajte svoj čas zdaj!

Potrebno je le nekaj klikov, da si rezervirate svoje mesto in dobite vozovnico

Hall C5 Booth 220

Vnaprejšnja registracija

Za obiskovalce na Electronici 2024
Vsi se prijavite! Hvala, ker ste se dogovorili!
Ko bomo preverili vašo rezervacijo, vam bomo poslali vstopnice po e -pošti.
Domov > Izdelki > Integriranih vezij (IC) > Logic - Posebnost Logic > SN74BCT8245ADWR
RFQs/naročilo (0)
Slovenija
Slovenija
6077299

SN74BCT8245ADWR

Zahtevaj ponudbo

Prosimo, izpolnite vsa potrebna polja s svojimi kontaktnimi podatki. Klik "Pošlji RFQ" Kmalu vas bomo kontaktirali po e -pošti.Ali nam pošljite e -pošto:info@ftcelectronics.com

Referenčna cena (v ameriških dolarjih)

Na zalogi
2000+
$5.855
Povpraševanje na spletu
Specifikacije
  • Številka dela
    SN74BCT8245ADWR
  • Proizvajalec / znamka
  • Količina zalog
    Na zalogi
  • Opis
    IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
  • Status svobodnega statusa / RoHS
    Brez svinca / RoHS
  • Napajalna napetost
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Paket naprave za dobavitelja
    24-SOIC
  • Serija
    74BCT
  • Pakiranje
    Tape & Reel (TR)
  • Paket / primer
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Druga imena
    SN74BCT8245ADWRE4
    SN74BCT8245ADWRE4-ND
    SN74BCT8245ADWRG4
    SN74BCT8245ADWRG4-ND
  • delovna temperatura
    0°C ~ 70°C
  • Število bitov
    8
  • Tip montaže
    Surface Mount
  • Raven občutljivosti na vlago (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Proizvajalec Standardni čas vodenja
    42 Weeks
  • Vrsta logike
    Scan Test Device with Bus Transceivers
  • Status svobodnega statusa / RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • natančen opis
    Scan Test Device with Bus Transceivers IC 24-SOIC
  • Številka osnovnega dela
    74BCT8245
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

Opis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

Opis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8240ANT

SN74BCT8240ANT

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8240ADWRE4

SN74BCT8240ADWRE4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8240ADWRG4

SN74BCT8240ADWRG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT

Opis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

Opis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi

Izberi jezik

Kliknite prostor za izhod